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簡(jiǎn)要描述：分體式涂層測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),或者非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
產(chǎn)品型號(hào)：- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-01-24
- 訪 問(wèn) 量：509
概述
分體式涂層測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),或者非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
涂層測(cè)厚儀應(yīng)用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。配置不同的探頭，適用于不同場(chǎng)合。它是檢測(cè)行業(yè)的必-備儀器。
分體式涂層測(cè)厚儀主要功能
● 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量和單次測(cè)量方式;
● 具有兩種工作方式：直接和成組方式;
● 具有自動(dòng)統(tǒng)計(jì)功能：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);
● 可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
● 存儲(chǔ)功能：可存4 個(gè)校正工件可保存。分2類工件，每類26組，每組15個(gè)，共1560個(gè)測(cè)值;
● 刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量;
● 設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;
● 具有電源欠壓指示功能，操作過(guò)程有蜂鳴聲提示，自動(dòng)關(guān)機(jī)方式。
● 一體式打印：可現(xiàn)場(chǎng)打印測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)告，也可打印以往儲(chǔ)存的測(cè)量數(shù)據(jù)，并提供多種打印選項(xiàng)
技術(shù)參數(shù)
| 項(xiàng)目 | Leeb 242 | |
| 測(cè)頭類型 | F1或者N1 | |
| 工作原理 | 磁感應(yīng)/電渦流 | |
| 測(cè)量范圍 | 0~1250μm | |
| 低限分辨率 | 0.1μm | |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（3%H+1） |
| 二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[（1~3%)H+1] | |
| 測(cè)試條件 | 最小曲率半徑mm | 凸1.5mm、凹9mm |
| 最小面積直徑mm | Φ7mm | |
| 基本臨界厚度mm | 0.5mm | |
| 工作環(huán)境 | 溫度 | 0~40℃ |
| 濕度 | 20%~90% | |
| 電源 | 鋰電池充電 | |
| 充電時(shí)間 | 3-6小時(shí) | |
| 工作時(shí)間 | 10小時(shí) | |
| 外形尺寸 | 230×86×46mm（主機(jī)） | |
| 重量 | 400g | |
| 外殼材質(zhì) | 塑料外殼 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、鐵基體、堿性電池、磁性探頭或渦流探頭、打印紙 | |
| 選配 | 標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭、渦流探頭、打印紙、pc通訊 | |
測(cè)量原理
● 本儀器采用了磁性原理的測(cè)厚方法，可測(cè)量磁性金屬基體( 如鐵、鈷、鎳 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)?；蛘卟捎昧穗姕u流的測(cè)量原理，可測(cè)量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
A、磁性法(F型測(cè)頭)：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)其磁阻的改變量可測(cè)出覆蓋層的厚度。
B、渦流法(N型測(cè)頭)：利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。--選配
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